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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	品牌所有品牌時(shí)代儀器德國德圖TESTO 國產(chǎn) 蘭泰星晟檢測(cè) 美國博士能BUSHNELL 南通友聯(lián) 英國易高日本小野瑞士徠卡LEICA 日本理音RION 臺(tái)灣衡欣AZ 德國尼克斯德國KK 法國CA 日本HIOKI 臺(tái)灣PROVA 德國EPK 美國GE 武漢中科美國達(dá)高特德國馬爾美國FLUKE 上海東昊	主要技術(shù)指標(biāo)	價(jià)格
	便攜式粗糙度儀 PS1	德國馬爾	最大測(cè)量范圍為 350 μm（0.014 in)（-200 μm 至 +150 μm）（-0.008 in 至 +0.006 in）	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 TIME2110	時(shí)代儀器	聲速調(diào)節(jié)范圍/(m/s) 1000～9999 示值誤差（鋼）/(mm) ±(0.1+1%H)	洽詢
	粗糙度儀 TIME3100	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍（μm ）Ra：0.05 ~ 6.5 ； Rz：0.1 ~ 50	洽詢
	手握數(shù)字轉(zhuǎn)速表 HT-3100	日本小野	低檔：1.5～2000.0r/min	洽詢
	手持式數(shù)字轉(zhuǎn)速表 DT-205L	日本理音RION	接觸 0.8-25000rpm 0.002-416.67rev/sec	洽詢
	激光測(cè)距儀 DISTO DXT	瑞士徠卡LEICA	測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) ± 1,5 mm 測(cè)量范圍 0.05 m – 70 m	洽詢
	激光測(cè)距儀 YARDAGE PRO500	美國博士能BUSHNELL	測(cè)量精確度±1(碼/米）一般物件之測(cè)量最遠(yuǎn)距離400m	洽詢
	激光測(cè)距儀 ELITE1500 ARC	美國博士能BUSHNELL	視野范圍 1000米處340英尺（約104米）	洽詢
	高爾夫?qū)Ｓ眉す鉁y(cè)距望遠(yuǎn)鏡 PINSEEKER W_Slope 1500	美國博士能BUSHNELL	測(cè)角度范圍 +/-20° 測(cè)距范圍 5-1500碼（約5-1370米）	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 DMS2	美國GE	測(cè)量范圍：0.2mm到635mm(鋼)，取決于探頭，材料和表面情況	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 UTG-22	星晟檢測(cè)	測(cè)量范圍 1.2～225.0mm（鋼）分辨率 0.01mm	洽詢
	時(shí)代超聲波測(cè)厚儀 TIME2170-原TT700	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍 0.15mm～20mm	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀(可穿透涂層) TT360	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍：</p>0.6mm-300mm（根據(jù)待檢材料、溫度、測(cè)量模式及傳感器而定）	洽詢
	超聲波涂層測(cè)厚儀 QuintSonic 7	德國EPK	測(cè)量范圍：300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層)	洽詢
	渦流覆層測(cè)厚儀 TIME2501	時(shí)代儀器	TT230的替代產(chǎn)品，測(cè)量范圍 0-1250μm	洽詢
	涂鍍層測(cè)厚儀 QNix4200	德國尼克斯	顯示精度 1μm ; 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm 工作溫度－10 －＋60℃	洽詢
	涂（鍍）層測(cè)厚儀 MC-2000A	國產(chǎn)	MC-2000 A 型測(cè)量范圍：0-1500um MC-2000 C 型測(cè)量范圍：0-5000um MC-2000 D 型測(cè)量范圍：10-9000um	洽詢
	涂層測(cè)厚儀 Elcometer 456	英國易高	最小基體厚度 300μm（12mils），除非有特殊的校準(zhǔn)調(diào)節(jié)	洽詢
	SPC涂層分析儀 Elcometer 365	英國易高	探頭模塊的精確度為1%	洽詢
	便攜式數(shù)字測(cè)振儀 VM-82	日本理音RION	加速度：0.02～200m/s2　等效峰值 1Hz～5KHz	洽詢

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